問99-100 解説




問100 
X 線回折法に関する記述のうち、正しいのはどれか。
2つ選べ。


1 X 線源のターゲット(対陰極)には
Cu や Mo が用いられる。

2 測定には、連続X線が通常用いられる。

3 X 線結晶構造解析では
回折斑点の強度から結晶の格子定数が求められる。

4 粉末 X 線回折法では
結晶構造に基づいた同心円状の回折像が得られる。

5 X 線を結晶に照射すると
主にその物質中の原子核の強制振動が起こり
散乱X 線が生じる。



選択肢 1 は正しい記述です。



選択肢 2 ですが
測定に用いられるのは、特性 X 線です。
連続 X 線では、ありません。


よって、選択肢 2 は誤りです。



選択肢 3 ですが
回折斑点の強度だけでなく、位置も
格子定数を求めるためには必要な情報です。


よって、選択肢 3 は誤りです。



選択肢 4 ですが、その通りの記述です。
ちなみに、単結晶に対する X 線回折の結果は
斑点状の画像として得ることができます。



選択肢 5 ですが
散乱 X 線とは
照射した X 線が、電子の影響を受けることにより
散乱した X 線のことです。
原子核の強制振動によるものではありません。


よって、選択肢 5 は誤りです。


以上より、正解は 1,4 です。